Evidence of dopant type-inversion and other radiation damage effects of the CDF silicon detectors
Fecha
2011-04-01Autor
Martínez Ballarín, Roberto
Metadatos
Mostrar el registro completo del ítemResumen
Se han estudiado los efectos producidos por la radiación sobre los detectores de silicio del experimento CDF, en particular el fenómeno de inversión del tipo de dopante y la evolución de las corrientes de polarización.