Sistema de adquisición de datos de la onda incidente y reflejada en una fuente de iones de resonancia ciclotrónica

Abstract

[ES] Se ha realizado el diseño, la puesta en marcha, y caracterización de un sistema de muestreo de alto rendimiento basado en el submuestreo que cuenta con capacidad de realizar las mediciones necesarias para el estudio del plasma ECR mediante el análisis de la onda incidente y reflejada de la cámara resonante.