Sistema de adquisición de datos de la onda incidente y reflejada en una fuente de iones de resonancia ciclotrónica

dc.contributor.advisor	Badillo Fernández, Inari
dc.contributor.advisor	Portilla Rubín, Joaquín
dc.contributor.author	Vivas Merino, Jon
dc.contributor.other	F. CIENCIA Y TECNOLOGIA
dc.contributor.other	ZIENTZIA ETA TEKNOLOGIA F.
dc.date.accessioned	2024-05-10T16:21:05Z
dc.date.available	2024-05-10T16:21:05Z
dc.date.issued	2024-05-10
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/10810/67871
dc.description.abstract	[ES] Se ha realizado el diseño, la puesta en marcha, y caracterización de un sistema de muestreo de alto rendimiento basado en el submuestreo que cuenta con capacidad de realizar las mediciones necesarias para el estudio del plasma ECR mediante el análisis de la onda incidente y reflejada de la cámara resonante.	es_ES
dc.language.iso	spa	es_ES
dc.rights	info:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rights.uri	http://creativecommons.org/licenses/by/3.0/es/
dc.subject	plasma ECR
dc.subject	onda incidente
dc.subject	onda reflejada
dc.subject	resonancia ciclotrónica
dc.title	Sistema de adquisición de datos de la onda incidente y reflejada en una fuente de iones de resonancia ciclotrónica	es_ES
dc.type	info:eu-repo/semantics/bachelorThesis
dc.date.updated	2023-06-23T10:18:37Z
dc.language.rfc3066	es
dc.rights.holder	Atribución (cc by)
dc.identifier.gaurregister	133941-912869-09
dc.identifier.gaurassign	140682-912869

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